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Communication dans un congrès

Third-order susceptibility measurement in silica-based thin film by Zernicke imaging technique

Liste complète des métadonnées

https://hal.univ-angers.fr/hal-02444073
Contributeur : Georges Boudebs <>
Soumis le : vendredi 17 janvier 2020 - 15:44:49
Dernière modification le : mardi 6 octobre 2020 - 10:52:07

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Georges Boudebs, M. Chis, A. Monteil, M. Ferradi. Third-order susceptibility measurement in silica-based thin film by Zernicke imaging technique. Technical Digest. Summaries of papers presented at the Quantum Electronics and Laser Science Conference, May 1992, Baltimore, France. pp.124, ⟨10.1109/QELS.1999.807408⟩. ⟨hal-02444073⟩

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