Probabilistic analysis of fatigue crack growth using efficient surrogate model - Université d'Angers Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Probabilistic analysis of fatigue crack growth using efficient surrogate model

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02511097 , version 1 (18-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02511097 , version 1

Citer

Stéphanie Chahine, Hassen Riahi, David Bigaud. Probabilistic analysis of fatigue crack growth using efficient surrogate model. 4th International Conference on System Reliability and Safety, ICSRS 2019, Nov 2019, Roma, Italy. pp.8. ⟨hal-02511097⟩
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