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Communication dans un congrès
Probabilistic analysis of fatigue crack growth using efficient surrogate model
Stéphanie Chahine 1
Auteur
Hassen Riahi 1
Auteur
David Bigaud 1
Mail :
Auteur IdHAL : david-bigaud ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8474-2885
1
LARIS - Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (Université d'Angers, LARIS - ISTIA-Polytech Angers, 62 Avenue Notre Dame du Lac - 49000 Angers - France)
- UA - Université d'Angers : EA7315 (Université d'Angers - 40 Rue de Rennes, BP 73532 - 49035 Angers CEDEX 01 - France)
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal.univ-angers.fr/hal-02511097
Contributeur : Marie-Françoise Gerard <>
Soumis le : mercredi 18 mars 2020 - 14:55:05
Dernière modification le : mercredi 18 mars 2020 - 14:59:41
Contributeur : Marie-Françoise Gerard <>
Soumis le : mercredi 18 mars 2020 - 14:55:05
Dernière modification le : mercredi 18 mars 2020 - 14:59:41
Identifiants
- HAL Id : hal-02511097, version 1
Collections
Citation
Stéphanie Chahine, Hassen Riahi, David Bigaud. Probabilistic analysis of fatigue crack growth using efficient surrogate model. 4th International Conference on System Reliability and Safety, ICSRS 2019, Nov 2019, Roma, Italy. pp.8. ⟨hal-02511097⟩
Métriques
Consultations de la notice
