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Communication dans un congrès

Optimal accelerated test plan: optimization procedure using Genetic Algorithm

Abstract : This paper describes an optimization procedure using Genetic Algorithm to define an optimal accelerated test plan considering an economic approach. We introduce a general framework to obtain plans of optimal accelerate tests with a specific objective, such as cost. The objective is to minimize the costs involved in testing without reducing the quality of the data obtained. The optimal test plans are defined by considering prior knowledge of reliability, including the reliability function and its scale and shape parameters, and the appropriate model to characterize the accelerated life. This information is used in Bayesian inference to optimize the test plan. To perform optimization, a specific genetic algorithm is decribed and applied to obtain the best test plan. This procedure is then illustrated on a numerical example.
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal.univ-angers.fr/hal-03428292
Contributeur : Okina Univ Angers Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : lundi 15 novembre 2021 - 10:00:42
Dernière modification le : vendredi 17 décembre 2021 - 11:12:28
Archivage à long terme le : : mercredi 16 février 2022 - 19:18:22

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fatemi_alt_2012_final_v1.pdf
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Identifiants

  • HAL Id : hal-03428292, version 1
  • OKINA : ua1603

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Citation

Seyyedeh-Zohreh Fatemi, Laurent Saintis, Fabrice Guérin. Optimal accelerated test plan: optimization procedure using Genetic Algorithm. 4th International Conference on Accelerated Life Testing and Degradation, 2012, Rennes, France. ⟨hal-03428292⟩

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