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Coupling simulation and accelerated degradation model for reliability estimation: Application to a voltage regulator

Résumé : Cet article démontre l'utilisation de données de simulation numérique, en fonction du comportement d'un régulateur à faible chute de tension, pour l'estimation des performances de fiabilité basée sur les données d’essais de dégradation accélérée. Le régulateur a été conçu à l'aide du logiciel Cadence Virtuoso en technologie CMOS AMS 180 nm, et simulé pour évaluer les variations de sa tension de sortie en fonction de la température et de la tension d'entrée. Les données de dégradation de la tension de sortie ont été générées en fonction de contraintes liées aux paramètres environnementaux (tension d'entrée et température), ce qui permet de définir des seuils de défaillance dans des conditions accélérées, en utilisant le modèle de simulation numérique ainsi que le modèle de dégradation proposé. Le modèle de trajectoire de dégradation a été adopté pour déterminer le temps de pseudo-défaillance sous le critère de défaillance spécifié (5 %). Un modèle de loi d'accélération a ensuite été utilisé pour estimer les paramètres du modèle de fiabilité en appliquant la méthode d'estimation du maximum de vraisemblance pour analyser et aussi pour prédire la distribution des données de durée de vie du régulateur dans différentes conditions de tension et de température.
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03794416
Contributeur : JABER AL RASHID Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : lundi 3 octobre 2022 - 11:34:11
Dernière modification le : lundi 14 novembre 2022 - 02:46:05

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Fichier visible le : 2023-03-25

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Jaber Al Rashid, Laurent Saintis, Mohsen Koohestani, Mihaela Barreau. Coupling simulation and accelerated degradation model for reliability estimation: Application to a voltage regulator. Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 138, pp.114682. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114682⟩. ⟨hal-03794416⟩

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