Third-order susceptibility measurement in silica-based thin film by Zernicke imaging technique - Université d'Angers Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1992

Third-order susceptibility measurement in silica-based thin film by Zernicke imaging technique

Georges Boudebs
Laboratoire de Photonique d'Angers
M. Chis
  • Fonction : Auteur
A. Monteil
  • Fonction : Auteur
M. Ferradi
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics] Physique [physics] Optique [physics.optics]

Georges Boudebs  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://univ-angers.hal.science/hal-02444073

Soumis le : vendredi 17 janvier 2020-15:44:49

Dernière modification le : lundi 14 novembre 2022-02:50:07

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Dates et versions

hal-02444073 , version 1 (17-01-2020)

Identifiants

Citer

Georges Boudebs, M. Chis, A. Monteil, M. Ferradi. Third-order susceptibility measurement in silica-based thin film by Zernicke imaging technique. Technical Digest. Summaries of papers presented at the Quantum Electronics and Laser Science Conference, May 1992, Baltimore, France. pp.124, ⟨10.1109/QELS.1999.807408⟩. ⟨hal-02444073⟩

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